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東莞*電氣技術有限公司實驗室小于1Ω接地工程
摘要:隨著芯片制造和測試自動化程度的提高,人體接觸器件的機會相對減少,帶電器件模型(CDM)已經成為微電子器件失效的主要原因之一,其重要性越來越多地受到人們的重視。
東莞*電氣技術有限公司實驗室小于1Ω接地工程
東莞*電氣技術有限公司實驗室小于1Ω接地工程-帶電器件測試與防護
隨著芯片制造和測試自動化程度的提高,人體接觸器件的機會相對減少,帶電器件模型(CDM)已經成為微電子器件失效的主要原因之一,其重要性越來越多地受到人們的重視。
帶電器件測試-實驗室小于1Ω靜電線
測試標準-實驗室小于1Ω靜電線
目前三個獨立的CDM測試標準是電子工業協會(JEDEC)的標準JESD 22-C101(2009)、美國靜電協會(ESDA)的標準AN-SI/ESD S5.3.1(2009)和日本電子與信息技術產業協會(JEITA)的標準EIAJED-4701/300-2。汽車工業協會的標準AEC-Q100-011采用的測試方法與S5.3.1相同。JEDEC標準是應用最廣泛的標準,IC廠商的使用率超過80%以上。在對放電模擬器的波形進行校準和驗證時,三個主要的測試標準中,存在著許多明顯的不同之處:
1)校準平臺不同。JEDEC標準采用金屬基體放在絕緣平臺上進行。ESDA標準采用在絕緣介質上嵌入金屬基體,放在薄的絕緣平臺上進行。JEITA也采用絕緣介質中嵌入金屬基體的方法,但是介電常數比JEDEC低,這能夠有效地減少平板電容。
2)示波器的帶寬不同。JEDEC推薦采用1 GHz帶寬的示波器,JEITA推薦至少2GHz帶寬的示波器,ESDA推薦采用1GHz和3 GHz帶寬的示波器。?
3)峰值電流和上升時間不同。在給定電壓下,ESDA采用最大的峰值電流。JEDEC的峰值電流比ESDA低15%~25%,JEITA的峰值電流比JEDEC低40%~50%。
這些不同之處,即使在相同的電壓下,導致放電電流波形不同,產生的CDM ESD也不同。2009年,ESDA和JEDEC開始合作,結合ESDA和JEDEC標準,產生近似的放電電流波形和峰值電流,形成統一的CDM測試標準(ESDA/JEDEC)。
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