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東莞*電氣技術有限公司實驗室小于1Ω接地工程
摘要：隨著芯片制造和測試自動化程度的提高，人體接觸器件的機會相對減少，帶電器件模型（CDM）已經成為微電子器件失效的主要原因之一，其重要性越來越多地受到人們的重視。
東莞*電氣技術有限公司實驗室小于1Ω接地工程
東莞*電氣技術有限公司實驗室小于1Ω接地工程-帶電器件測試與防護
隨著芯片制造和測試自動化程度的提高，人體接觸器件的機會相對減少，帶電器件模型（CDM）已經成為微電子器件失效的主要原因之一，其重要性越來越多地受到人們的重視。
帶電器件測試-實驗室小于1Ω靜電線
測試標準-實驗室小于1Ω靜電線
目前三個獨立的CDM測試標準是電子工業協會（JEDEC）的標準JESD 22-C101（2009）、美國靜電協會（ESDA）的標準AN-SI／ESD S5.3.1（2009）和日本電子與信息技術產業協會（JEITA）的標準EIAJED-4701／300-2。汽車工業協會的標準AEC-Q100-011采用的測試方法與S5.3.1相同。JEDEC標準是應用最廣泛的標準，IC廠商的使用率超過80％以上。在對放電模擬器的波形進行校準和驗證時，三個主要的測試標準中，存在著許多明顯的不同之處：
1）校準平臺不同。JEDEC標準采用金屬基體放在絕緣平臺上進行。ESDA標準采用在絕緣介質上嵌入金屬基體，放在薄的絕緣平臺上進行。JEITA也采用絕緣介質中嵌入金屬基體的方法，但是介電常數比JEDEC低，這能夠有效地減少平板電容。
2）示波器的帶寬不同。JEDEC推薦采用1 GHz帶寬的示波器，JEITA推薦至少2GHz帶寬的示波器，ESDA推薦采用1GHz和3 GHz帶寬的示波器。?
3）峰值電流和上升時間不同。在給定電壓下，ESDA采用最大的峰值電流。JEDEC的峰值電流比ESDA低15％～25％，JEITA的峰值電流比JEDEC低40％～50％。
這些不同之處，即使在相同的電壓下，導致放電電流波形不同，產生的CDM ESD也不同。2009年，ESDA和JEDEC開始合作，結合ESDA和JEDEC標準，產生近似的放電電流波形和峰值電流，形成統一的CDM測試標準（ESDA／JEDEC）。
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